1 產(chǎn)品介紹

通用表面測試儀，具有高局部分辨率，可測量變形、阻尼、形貌、微摩擦等。

一個(gè)系統(tǒng)中的通用表面解決方案

UST設(shè)計(jì)用于在一個(gè)開放平臺內(nèi)提供定量機(jī)械表征。它地服務(wù)于我們遍布的工業(yè)合作伙伴和研究機(jī)構(gòu)的研發(fā)中心?；讷@得的測量協(xié)議，UST®在納米和厘米范圍內(nèi)提供必要而可靠的解決方案。

UST – 表面測試儀®，是一個(gè)為散裝材料和表面涂層評估提供完整機(jī)械測試解決方案的開放式多模塊化系統(tǒng)。可以完成10多種測量，并開發(fā)了60多種不同的測試，以滿足您的表征要求的多樣性。

基本單位UST ®有兩個(gè)版本：UST100（負(fù)載范圍1mN-100mN）和UST1000（加載范圍100mN-50N）?；締卧陕涞厥焦?、帶 3 個(gè)吸頭的測量頭、自動(dòng) X-Y 工作臺和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)組成

2 適配模塊

3D 變形

在一個(gè)區(qū)域上自動(dòng)執(zhí)行多次單次掃描，并記錄完整曲面的 3D 變形屬性。3D 變形

技術(shù)參數(shù)：金剛石錐 60°/ 90°/ 120°

鋼錐 60°

3D 地形

在一個(gè)區(qū)域上自動(dòng)執(zhí)行多次單次掃描，并記錄完整表面的 3D 形貌和材料屬性。

D 地形

3D 粗糙度

粒子模式

技巧：金剛石錐 60°/ 90°/ 120°

鋼錐 60°

劃痕

標(biāo)準(zhǔn)劃痕，具有局部表面輪廓的標(biāo)準(zhǔn)劃痕測試

提示：劃痕鉆石 5° 底切

微量離心（標(biāo)準(zhǔn)）

在掃描過程中測量樣品和之間的摩擦力，精度以mN為單位。

硬件：帶傳感器的摩擦臺

電腦控制器卡

樣品固定和夾緊

微摩擦 + 2D 形貌

微摩擦 + 2D 變形

提示：可根據(jù)要求定制吸頭（例如觸覺吸頭）

3 產(chǎn)品優(yōu)勢

在各種商用在線材料性能測試儀器中，UST是迄今為止一家縮小傳統(tǒng)宏觀機(jī)械試驗(yàn)機(jī)與納米級機(jī)器（如AFM）之間差距的測試儀。®

高精度負(fù)載傳感器與壓電執(zhí)行器和主動(dòng)反饋回路控制相結(jié)合，用于實(shí)時(shí)測量正常負(fù)載和摩擦力

通過輕松更換測量頭，可選擇具有不同負(fù)載范圍的選件

帶有內(nèi)置電機(jī)的自動(dòng) X-Y 工作臺，可實(shí)現(xiàn)高精度輪廓測量，測量區(qū)域可達(dá) 60 mm × 60 mm

高分辨率工作臺，用于高重新定位

精確的深度測量，所有測試的行程范圍更大，Z方向可達(dá)4 mm

帶位移傳感器的高級線性模塊

具有局部分辨率的原位測量

穩(wěn)定控制速度、位移和步進(jìn)負(fù)載

具有同步全景圖的自動(dòng)視頻顯微鏡

符合 ISO、DIN 和 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)

實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集，圖像、數(shù)據(jù)和圖形集成

輕松的樣品制備和吸頭更換

為各種應(yīng)用定制吸頭選擇

兼容各種環(huán)境：液體或濕度

4 測試原理

UST測量程序包括用手寫筆在樣品表面上沿著直線進(jìn)行多次機(jī)械掃描。在這個(gè)獲得的MISTAN程序中，手寫筆在沒有負(fù)載或以定義的負(fù)載在表面上移動(dòng)。

步驟1：無負(fù)載掃描。連續(xù)確定表面結(jié)構(gòu)。

步驟2：在具有額外載荷的同一路徑上進(jìn)行掃描以確定總變形。

步驟3：在無載荷的情況下在同一路徑上掃描以確定彈性變形。

總變形 = 步驟 1 - 步驟 2;

彈性變形 = 步驟 3 – 步驟 2;

變形 = 步驟 1 - 步驟 3

5 技術(shù)參數(shù)

項(xiàng) 1：UST 100®

選項(xiàng) 2：UST 1000®

包括：二維變形測量

吸頭檢查/校準(zhǔn)

3 個(gè)標(biāo)準(zhǔn)吸頭（2 個(gè)鋼錐，鋼球）

1 個(gè)大夾具/ 1 個(gè)小夾具/ 工具/ 螺釘

UST 100

負(fù)載范圍：1 mN – 100 mN

負(fù)載分辨率： <0，1 mN

負(fù)載背景噪音： <10 mN

X、Y 軸位移分辨率： 1 μm

Z 軸位移分辨率： 60 nm

UST 1000

負(fù)載范圍：10 mN – 50 N

負(fù)載分辨率： <1 mN

負(fù)載背景噪音： <100 mN

X、Y 軸位移分辨率： 1 μm